Germania: Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung - PR659318 - 3340 - W
Data licitatiei 23.07.2024
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Tip anunt:
UE
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ID: 8421015
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Data publicarii :
24.06.2024
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Tara/Judet:
GE |
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Descriere scurta:
Germania: Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung - PR659318 - 3340 - W
Coduri CPV:
38600000-1 - Instrumente optice
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Textul licitației
ifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung / Photoinduced Force Mircroscopy PiFMIdentificatorul procedurii: 89476e15-17c3-4b59-b842-789df31481f9Identificator intern: PR659318 - 3340 - WTip de procedură: Negociată cu publicarea prealabilă a unei proceduri concurențiale de ofertare / competitivă cu negociereProcedura este accelerată: nu2.1.1. ScopNatura contractului: BunuriClasificarea principală (cpv): 38600000 Instrumente optice2.1.2. Locul de executareSubdiviziunea țării (NUTS): Chemnitz, Kreisfreie Stadt (DED41)Țara: Germania2.1.4. Informații generaleTemei juridic: Directiva 2014/24/UEvgv - Legislația transfrontalieră aplicabilă: 2.1.6.Motive de excludere: Motive de excludere pur naționale: es gelten alle nationalen, gesetzlichen Ausschlussgründe5. Lot5.1. Lot: LOT-0000Titlu: Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsm