Textul licitației

€™Ã©tude des relations microstructure-propriétés mécaniques via des caractérisations microstructurales sous chargement mécanique et/ou en température. Pour cela, le laboratoire souhaite s'équiper d'un système de diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD = Electron Back Scattered Diffraction) dans le but de réaliser des mesures d'orientation cristalline sur échantillons métalliques. Ce dispositif sera installé sur un MEB FEG Supra55 déjà présent dans le laboratoire. Il est équipé d'une platine de traction in-situ sur échantillon pré-incliné de marque "Micromecha" pouvant fonctionner à haute température (inférieure ou égale à 500°C). Le canon du microscope Supra55 ne délivrant qu'un courant de sonde faible et les mesures in-situ nécessitant des vitesses d'acquisition élevées, le détecteur devra présenter une grande sensibilité. Il devra également présenter un encombrement le plus réduit possible pour s'approcher au mieux de l'échantillon monté sur la platine de traction. Ce marché prévoit l’acquisition, la livraison et l’installation d'un système de diffraction d'électrons rétrodiffusés sur un microscope électronique à balayage d